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玉村　静世

Code: 100089071

38.6%
Success Rate
Granted / 特許査定
27
38.6% of total
Not Granted / 非特許
43
61.4%
Avg. Time / 平均期間
1114d
~3.1 yrs
Total / 総出願数
70
Applications

Patent Status

27 Granted / 特許査定
38.6%
43 Not Granted / 非特許
61.4%

Time to Grant (days from publication)

Min
540
days
Median
1134
days
Max
1506
days
Based on 26 granted patents

Charts

Success Rate Trend / 特許率の推移

Time To Grant Trend (Days) / 特許査定期間の推移（日数）

Patent Volume By Year / 年別特許件数

Performance by Year

Year Granted Not Granted Rate
2010 27 43 38.6%

Granted Patents (27)

半導体集積回路、半導体集積回路を実装したＩＣカードおよびその動作方法
JP2010009353
Google Patents
Filed: 1/14/2010 Granted: 6/21/2013 1254 days
データ処理システム
JP2010009612
Google Patents
Filed: 1/14/2010 Granted: 9/16/2011 610 days
半導体装置の製造方法
JP2010010187
Google Patents
Filed: 1/14/2010 Granted: 8/9/2013 1303 days
半導体集積回路装置の製造方法
JP2010010197
Google Patents
Filed: 1/14/2010 Granted: 7/26/2013 1289 days
半導体集積回路装置の製造方法
JP2010010400
Google Patents
Filed: 1/14/2010 Granted: 6/29/2012 897 days
データ処理システム及びプログラム開発システム
JP2010015275
Google Patents
Filed: 1/21/2010 Granted: 11/25/2011 673 days
メモリカード
JP2010015606
Google Patents
Filed: 1/21/2010 Granted: 1/20/2012 729 days
マイクロコンピュータ及びマイコンシステム
JP2010020801
Google Patents
Filed: 1/28/2010 Granted: 7/22/2011 540 days
データ処理装置
JP2010021637
Google Patents
Filed: 1/28/2010 Granted: 2/28/2014 1492 days
半導体装置
JP2010033626
Google Patents
Filed: 2/12/2010 Granted: 11/30/2012 1022 days
半導体集積回路
JP2010033711
Google Patents
Filed: 2/12/2010 Granted: 2/12/2010 0
不揮発性メモリ制御方法及び半導体装置
JP2010039983
Google Patents
Filed: 2/18/2010 Granted: 2/21/2014 1464 days
クロックドメインチェック方法及びクロックドメインチェック用プログラム並びに記録媒体
JP2010049385
Google Patents
Filed: 3/4/2010 Granted: 11/30/2012 1002 days
電子回路
JP2010056593
Google Patents
Filed: 3/11/2010 Granted: 2/14/2014 1436 days
半導体集積回路およびその動作方法
JP2010056977
Google Patents
Filed: 3/11/2010 Granted: 8/2/2013 1240 days
データ処理システム
JP2010061540
Google Patents
Filed: 3/18/2010 Granted: 3/1/2013 1079 days
半導体装置
JP2010061701
Google Patents
Filed: 3/18/2010 Granted: 2/15/2013 1065 days
半導体集積回路装置の製造方法
JP2010062237
Google Patents
Filed: 3/18/2010 Granted: 7/19/2013 1219 days
半導体装置のテスト方法
JP2010066091
Google Patents
Filed: 3/25/2010 Granted: 5/9/2014 1506 days
データプロセッサ
JP2010066893
Google Patents
Filed: 3/25/2010 Granted: 9/6/2013 1261 days
半導体集積回路
JP2010067343
Google Patents
Filed: 3/25/2010 Granted: 8/10/2012 869 days
半導体集積回路装置の製造方法
JP2010073773
Google Patents
Filed: 4/2/2010 Granted: 4/4/2014 1463 days
表示駆動回路
JP2010079119
Google Patents
Filed: 4/8/2010 Granted: 1/18/2013 1016 days
半導体集積回路及びそれを用いたＩＣカード
JP2010086433
Google Patents
Filed: 4/15/2010 Granted: 5/2/2013 1113 days
データ処理システム及び半導体集積回路
JP2010086456
Google Patents
Filed: 4/15/2010 Granted: 7/26/2013 1198 days
デジタルアンプシステム
JP2010087939
Google Patents
Filed: 4/15/2010 Granted: 3/29/2013 1079 days
データ処理装置及びデータ処理方法
JP2010091913
Google Patents
Filed: 4/22/2010 Granted: 6/21/2013 1156 days

Clients (5)

ルネサスエレクトロニクス株式会社
慶應義塾
株式会社ルネサステクノロジ
株式会社日立製作所
株式会社村田製作所
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