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来山　幹雄

Code: 100105887

71.0%
Success Rate
Granted / 特許査定
44
71.0% of total
Not Granted / 非特許
18
29.0%
Avg. Time / 平均期間
1125d
~3.1 yrs
Total / 総出願数
62
Applications

Patent Status

44 Granted / 特許査定
71.0%
18 Not Granted / 非特許
29.0%

Time to Grant (days from publication)

Min
798
days
Median
1093
days
Max
1632
days
Based on 44 granted patents

Charts

Success Rate Trend / 特許率の推移

Time To Grant Trend (Days) / 特許査定期間の推移（日数）

Patent Volume By Year / 年別特許件数

Performance by Year

Year Granted Not Granted Rate
2010 44 18 71.0%

Granted Patents (44)

液晶表示素子及びその製造方法
JP2010008491
Google Patents
Filed: 1/14/2010 Granted: 7/4/2014 1632 days
液晶表示装置
JP2010008563
Google Patents
Filed: 1/14/2010 Granted: 11/9/2012 1030 days
マッハツェンダ型光変調器
JP2010008869
Google Patents
Filed: 1/14/2010 Granted: 10/12/2012 1002 days
半導体装置の製造方法、及び半導体装置
JP2010010211
Google Patents
Filed: 1/14/2010 Granted: 1/24/2014 1471 days
半導体装置及び携帯型電子機器
JP2010010370
Google Patents
Filed: 1/14/2010 Granted: 4/19/2013 1191 days
半導体装置及びその製造方法
JP2010010371
Google Patents
Filed: 1/14/2010 Granted: 12/28/2012 1079 days
表面検査方法、及びびびりマーク検査装置
JP2010014547
Google Patents
Filed: 1/21/2010 Granted: 7/13/2012 904 days
液晶表示装置
JP2010014989
Google Patents
Filed: 1/21/2010 Granted: 2/8/2013 1114 days
シミュレーション方法及びプログラム
JP2010015284
Google Patents
Filed: 1/21/2010 Granted: 8/2/2013 1289 days
半導体装置の製造方法、及び半導体装置
JP2010021325
Google Patents
Filed: 1/28/2010 Granted: 5/10/2013 1198 days
窒化物半導体発光素子およびその製造方法
JP2010021367
Google Patents
Filed: 1/28/2010 Granted: 12/28/2012 1065 days
欠陥検査装置
JP2010021511
Google Patents
Filed: 1/28/2010 Granted: 9/27/2013 1338 days
半導体記憶装置
JP2010021562
Google Patents
Filed: 1/28/2010 Granted: 3/15/2013 1142 days
溶射合金、表面層を備えた部材およびその製造方法
JP2010024529
Google Patents
Filed: 2/4/2010 Granted: 6/14/2013 1226 days
半導体構造の加工方法
JP2010027670
Google Patents
Filed: 2/4/2010 Granted: 6/1/2012 848 days
デュアルモードフィルタ
JP2010028787
Google Patents
Filed: 2/4/2010 Granted: 8/17/2012 925 days
半導体装置の製造方法
JP2010034569
Google Patents
Filed: 2/12/2010 Granted: 10/19/2012 980 days
液晶表示素子
JP2010039120
Google Patents
Filed: 2/18/2010 Granted: 11/9/2012 995 days
シミュレーション方法及びプログラム
JP2010039623
Google Patents
Filed: 2/18/2010 Granted: 9/20/2013 1310 days
半導体発光装置及びその製造方法
JP2010045118
Google Patents
Filed: 2/25/2010 Granted: 2/15/2013 1086 days
化合物半導体装置とその製造方法
JP2010045169
Google Patents
Filed: 2/25/2010 Granted: 6/22/2012 848 days
レーザ装置及び反射膜の製造方法
JP2010045404
Google Patents
Filed: 2/25/2010 Granted: 2/15/2013 1086 days
液晶表示装置
JP2010048875
Google Patents
Filed: 3/4/2010 Granted: 3/8/2013 1100 days
半導体装置とその製造方法
JP2010050474
Google Patents
Filed: 3/4/2010 Granted: 6/1/2012 820 days
形状変化測定装置及び方法
JP2010054283
Google Patents
Filed: 3/11/2010 Granted: 6/6/2014 1548 days
液晶表示素子
JP2010054759
Google Patents
Filed: 3/11/2010 Granted: 6/14/2013 1191 days
構造解析装置及び構造解析方法
JP2010055517
Google Patents
Filed: 3/11/2010 Granted: 2/22/2013 1079 days
固体撮像素子の製造方法
JP2010056155
Google Patents
Filed: 3/11/2010 Granted: 9/27/2013 1296 days
半導体装置の製造方法
JP2010056578
Google Patents
Filed: 3/11/2010 Granted: 9/7/2012 911 days
液晶表示素子
JP2010060606
Google Patents
Filed: 3/18/2010 Granted: 6/28/2013 1198 days
電子音楽装置及びプログラム
JP2010060905
Google Patents
Filed: 3/18/2010 Granted: 5/24/2013 1163 days
センサ
JP2010066065
Google Patents
Filed: 3/25/2010 Granted: 5/17/2013 1149 days
研削方法
JP2010069564
Google Patents
Filed: 4/2/2010 Granted: 7/26/2013 1211 days
光導波装置
JP2010072401
Google Patents
Filed: 4/2/2010 Granted: 8/2/2013 1218 days
電子部品及び電子部品の製造方法
JP2010073725
Google Patents
Filed: 4/2/2010 Granted: 2/1/2013 1036 days
半導体装置の製造方法及び半導体装置
JP2010073933
Google Patents
Filed: 4/2/2010 Granted: 8/9/2013 1225 days
半導体装置とその製造方法
JP2010074176
Google Patents
Filed: 4/2/2010 Granted: 11/30/2012 973 days
レーザ加工方法、及び、レーザ加工装置
JP2010075952
Google Patents
Filed: 4/8/2010 Granted: 11/30/2012 967 days
レーザ加工装置、及び、レーザ加工方法
JP2010075953
Google Patents
Filed: 4/8/2010 Granted: 2/15/2013 1044 days
液晶表示素子
JP2010079120
Google Patents
Filed: 4/8/2010 Granted: 5/24/2013 1142 days
研削品質評価方法、評価マップ作成方法、及び評価マップ
JP2010094781
Google Patents
Filed: 4/30/2010 Granted: 1/18/2013 994 days
姿勢測定方法及び研削装置
JP2010096722
Google Patents
Filed: 4/30/2010 Granted: 7/6/2012 798 days
光導波路の製造方法
JP2010097174
Google Patents
Filed: 4/30/2010 Granted: 9/26/2014 1610 days
耐磨耗性ライニング層の製造方法および複合シリンダ
JP2010099693
Google Patents
Filed: 5/6/2010 Granted: 4/26/2013 1086 days

Clients (5)

スタンレー電気株式会社
ヤマハ株式会社
住友重機械工業株式会社
富士通セミコンダクター株式会社
富士通株式会社
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