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弁理士法人京都国際特許事務所

Code: 110001069

82.5%
Success Rate
Granted / 特許査定
33
82.5% of total
Not Granted / 非特許
7
17.5%
Avg. Time / 平均期間
1085d
~3.0 yrs
Total / 総出願数
40
Applications

Patent Status

33 Granted / 特許査定
82.5%
7 Not Granted / 非特許
17.5%

Time to Grant (days from publication)

Min
715
days
Median
1086
days
Max
1436
days
Based on 33 granted patents

Charts

Success Rate Trend / 特許率の推移

Time To Grant Trend (Days) / 特許査定期間の推移（日数）

Patent Volume By Year / 年別特許件数

Performance by Year

Year Granted Not Granted Rate
2010 33 7 82.5%

Granted Patents (33)

アルカリ現像可能な硬化性組成物及びその硬化物
JP2010002692
Google Patents
Filed: 1/7/2010 Granted: 12/13/2013 1436 days
Ｘ線分析装置
JP2010008176
Google Patents
Filed: 1/14/2010 Granted: 11/9/2012 1030 days
回折格子及び分光器
JP2010008706
Google Patents
Filed: 1/14/2010 Granted: 7/19/2013 1282 days
アルカリ現像可能な硬化性組成物及びその硬化物
JP2010013518
Google Patents
Filed: 1/21/2010 Granted: 3/22/2013 1156 days
分析装置
JP2010014511
Google Patents
Filed: 1/21/2010 Granted: 8/10/2012 932 days
アルカリ現像可能な硬化性組成物及びその硬化物
JP2010024336
Google Patents
Filed: 2/4/2010 Granted: 8/24/2012 932 days
カメラを備えた分析装置及びその制御プログラム
JP2010025726
Google Patents
Filed: 2/4/2010 Granted: 5/31/2013 1212 days
Ｘ線分析装置
JP2010025868
Google Patents
Filed: 2/4/2010 Granted: 4/26/2013 1177 days
電子分光装置及び電子分光法並びに多環式芳香族炭化水素イオン銃
JP2010025912
Google Patents
Filed: 2/4/2010 Granted: 10/18/2013 1352 days
アルカリ現像可能な硬化性組成物及びその硬化物
JP2010031072
Google Patents
Filed: 2/12/2010 Granted: 6/14/2013 1218 days
機器分析データ処理装置
JP2010032277
Google Patents
Filed: 2/12/2010 Granted: 9/28/2012 959 days
質量分析データ解析装置
JP2010038664
Google Patents
Filed: 2/18/2010 Granted: 1/25/2013 1072 days
発光分析装置
JP2010048555
Google Patents
Filed: 3/4/2010 Granted: 8/17/2012 897 days
クロマトグラフ質量分析データ解析方法及び装置
JP2010054406
Google Patents
Filed: 3/11/2010 Granted: 4/20/2012 771 days
分析装置用画像表示装置及び該装置を用いた表面分析装置
JP2010054420
Google Patents
Filed: 3/11/2010 Granted: 1/11/2013 1037 days
２次元フォトニック結晶レーザ
JP2010056338
Google Patents
Filed: 3/11/2010 Granted: 9/7/2012 911 days
２次元フォトニック結晶レーザ
JP2010056446
Google Patents
Filed: 3/11/2010 Granted: 6/28/2013 1205 days
マルチディメンジョナルガスクロマトグラフ装置
JP2010060335
Google Patents
Filed: 3/18/2010 Granted: 8/9/2013 1240 days
放電イオン化電流検出器
JP2010060354
Google Patents
Filed: 3/18/2010 Granted: 11/22/2012 980 days
フォトクロミック化合物及び追記型光記録分子材料
JP2010064968
Google Patents
Filed: 3/25/2010 Granted: 3/15/2013 1086 days
カルボキシル基含有エポキシ樹脂及びその硬化物
JP2010065090
Google Patents
Filed: 3/25/2010 Granted: 10/18/2013 1303 days
スーパーＯＤＳ鋼
JP2010065302
Google Patents
Filed: 3/25/2010 Granted: 8/16/2013 1240 days
ガスクロマトグラフ装置
JP2010066185
Google Patents
Filed: 3/25/2010 Granted: 5/10/2013 1142 days
四重極型質量分析装置
JP2010067532
Google Patents
Filed: 3/25/2010 Granted: 3/9/2012 715 days
カルボキシル基含有化合物及びその硬化物
JP2010070663
Google Patents
Filed: 4/2/2010 Granted: 2/15/2013 1050 days
近接場光学顕微鏡の信号光測定システム
JP2010071871
Google Patents
Filed: 4/2/2010 Granted: 5/17/2013 1141 days
金属ナノ粒子の製造方法
JP2010077472
Google Patents
Filed: 4/8/2010 Granted: 9/27/2013 1268 days
アルカリ現像可能な硬化性組成物及びその硬化物
JP2010078753
Google Patents
Filed: 4/8/2010 Granted: 4/26/2013 1114 days
アルカリ現像可能な硬化性組成物及びその硬化物
JP2010078949
Google Patents
Filed: 4/8/2010 Granted: 4/26/2013 1114 days
データ管理システム及びデータ管理システム用プログラム
JP2010086493
Google Patents
Filed: 4/15/2010 Granted: 3/22/2013 1072 days
原子吸光分光光度計
JP2010091446
Google Patents
Filed: 4/22/2010 Granted: 8/10/2012 841 days
四重極型質量分析装置
JP2010092630
Google Patents
Filed: 4/22/2010 Granted: 9/14/2012 876 days
光学顕微観察用高圧力試料容器
JP2010096812
Google Patents
Filed: 4/30/2010 Granted: 3/1/2013 1036 days

Clients (10)

ジック　アーゲー
ローム株式会社
互応化学工業株式会社
国立大学法人　奈良先端科学技術大学院大学
国立大学法人京都大学
国立大学法人北海道大学
国立研究開発法人日本原子力研究開発機構
国立研究開発法人科学技術振興機構
株式会社コベルコ科研
株式会社島津製作所
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